סיבים אופטיים מיוחדים- Wasin Fujikura עמיד בטמפרטורה גבוהה סיבים אופטיים Wasin Fujikura
סיבים אופטיים עמידים בטמפרטורה גבוהה של נאנג'ינג ואסין פוג'יקורה בעלי תכונות אופטיות טובות, תכונות עייפות דינמיות מצוינות וחוזק מתיחה גבוה בתנאי טמפרטורה גבוהה. ל-Wasin Fujikura שתי סדרות של סיבים עמידים בטמפרטורה גבוהה, ב-200 מעלות ו-350 מעלות
תכונה
◄ ביצועים טובים בטמפרטורה גבוהה
◄ ביצועי יציבות תחת מחזור מתמשך של טמפרטורה נמוכה וטמפרטורות גבוהות אינטנסיביות (עד -55 מעלות צלזיוס עד 300 מעלות צלזיוס)
◄ אובדן נמוך, פס רחב (מקרב אולטרה סגול לפס אינפרא אדום קרוב, 400 ננומטר עד 1600 ננומטר)
◄ יכולת עמידות טובה בפני נזק אופטי
◄ רמת חוזק 100KPSI
◄ התהליך גמיש וניתן להתאים אותו למימוש גיאומטריה שונה, מבנה פרופיל סיבים, NA וכו'.
טמפרטורת עבודה מקסימלית ב-200 מעלות
|
השרף הפוליאקרילי כציפוי |
|||
| פָּרָמֶטֶר |
HTMF |
HTHF |
HTSF |
| קוטר חיפוי (אממ) |
50±2.5 |
62.5±2.5 |
- |
| קוטר חיפוי (אממ) |
125±1.0 |
125±1.0 |
125±1.0 |
| אי-מעגליות חיפוי (%) |
≤1 |
≤1 |
≤1 |
| קונצנטריות ליבה/חיפוי (אום) |
≤2 |
≤2 |
≤0.8 |
| קוטר הציפוי (אממ) |
245±10 |
245±10 |
245±10 |
| ריכוזיות של ציפוי/חיפוי (אום) |
≤12 |
≤12 |
≤12 |
| צמצם מספרי (NA) |
0.200±0.015 |
0.275±0.015 |
- |
| קוטר שדה מצב (אום) @1310nm |
- |
- |
9.2±0.4 |
| קוטר שדה מצב (אום) @1550nm |
- |
- |
10.4±0.8 |
| רוחב פס (MHz.km) @850nm |
≥300 |
≥160 |
- |
| רוחב פס (MHz.km) @1300nm |
≥300 |
≥300 |
- |
| רמת הוכחה (kpsi) |
100 |
100 |
100 |
| טווח טמפרטורת פעולה (°C) |
-55 עד +200 |
-55 עד +200 |
-55 עד +200 |
| לטווח קצר (°C) (בעוד יומיים) |
200 |
200 |
200 |
| לטווח ארוך (°C) |
150 |
150 |
150 |
| הנחתה (dB/km) @1550nm |
- |
- |
≤0.25 |
| הנחתה (dB/km) |
≤0.7 @1300nm |
≤0.8 @1300nm |
≤0.35@1310nm |
| הנחתה (dB/km) @850nm |
≤2.8 |
≤3.0 |
- |
| אורך גל חיתוך |
- |
- |
≤ 1290 ננומטר |
טמפרטורת עבודה מקסימלית ב-350 מעלות
| הפולימיד כציפוי | |||
| פָּרָמֶטֶר | HTMF | HTHF | HTSF |
| קוטר חיפוי (אום) | 50±2.5 | 62.5±2.5 | - |
| קוטר חיפוי (אום) | 125±1.0 | 125±1.0 | 125±1.0 |
| אי-מעגליות של חיפוי (%) | ≤1 | ≤1 | ≤1 |
| קונצנטריות ליבה/חיפוי(אום) | ≤2.0 | ≤2.0 | ≤0.8 |
| קוטר ציפוי (אום) | 155±15 | 155±15 | 155±15 |
| ריכוזיות ציפוי/חיפוי(אום) | 10 | 10 | 10 |
| צמצם מספרי (NA) | 0.200±0.015 | 0.275±0.015 | - |
| קוטר שדה מצב (אום) @1310nm | - | - | 9.2±0.4 |
| קוטר שדה מצב (אום) @1550nm | - | - | 10.4±0.8 |
| רוחב פס (MHz.km) @850nm | ≥300 | ≥160 | - |
| רוחב פס (MHz.km) @1300nm | ≥300 | ≥300 | - |
| רמת הוכחה (kpsi) | 100 | 100 | 100 |
| טווח טמפרטורת פעולה (°C) | -55 עד +350 | -55 עד +350 | -55 עד +350 |
| לטווח קצר (°C) (בעוד יומיים) | 350 | 350 | 350 |
| לטווח ארוך (°C) | 300 | 300 | 300 |
| הנחתה (dB/km) @1550nm | - | - | 0.27 |
| הנחתה (dB/km) | ≤1.2 @1300nm | ≤1.4@1300nm | ≤0.45@1310nm |
| הנחתה (dB/km) @850nm | ≤3.2 | ≤3.7 | - |
| אורך גל חיתוך | - | - | ≤1290 ננומטר |
בדיקת הנחתה, פיתול הסיב בדיסק בקוטר גדול מ-35 ס"מ על-ידי מתח של 1 ~ 2 גרם
